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國儀量子SEM3200鎢燈絲掃描電子顯微鏡

簡要描述:國儀量子SEM3200鎢燈絲掃描電子顯微鏡 是一款綜合能力優(yōu)秀的通用型立式鎢燈絲掃描電鏡。特別的電子槍雙陽極結(jié)構(gòu),保證了低電壓下的分辨率和更好的圖像信噪比。

  • 產(chǎn)品型號:
  • 廠商性質(zhì):代理商
  • 更新時間:2025-06-06
  • 訪  問  量:42

詳細(xì)介紹

品牌國儀量子產(chǎn)地類別國產(chǎn)
價格區(qū)間面議儀器種類鎢燈絲
應(yīng)用領(lǐng)域能源,電子/電池,電氣加速電壓0.2 kV~ 30 kV
放大倍率1x~300,000x

國儀量子SEM3200鎢燈絲掃描電子顯微鏡 是一款綜合能力優(yōu)秀的通用型立式鎢燈絲掃描電鏡。特別的電子槍雙陽極結(jié)構(gòu),保證了低電壓下的分辨率和更好的圖像信噪比。另外有諸多的可選配附件選擇,使得國儀量子SEM3200鎢燈絲掃描電子顯微鏡成為了一款應(yīng)用廣泛的綜合分析儀器。

國儀量子SEM3200鎢燈絲掃描電子顯微鏡

產(chǎn)品特點(diǎn)(*為選配件)

低電壓

碳材料樣品,低電壓下,穿透深度較小,可以獲取樣品表面真實(shí)形貌,細(xì)節(jié)更豐富。

毛發(fā)樣品,在低電壓下,電子束輻照損傷減小,同時消除了荷電效應(yīng)。

低真空

過濾纖維管材料,導(dǎo)電性差,在高真空下荷電明顯,在低真空下,無需鍍膜即可實(shí)現(xiàn)對不導(dǎo)電樣品的直接觀察。

大視場

生物樣品,采用大視場觀察,能夠輕松獲得瓢蟲整體形貌及頭部結(jié)構(gòu)細(xì)節(jié),展現(xiàn)跨尺度分析。

導(dǎo)航&防碰撞

光學(xué)導(dǎo)航

想看哪里點(diǎn)哪里,導(dǎo)航更輕松
標(biāo)配倉內(nèi)攝像頭,可拍攝高清樣品臺照片,快速定位樣品。

手勢快捷導(dǎo)航

可通過雙擊移動、鼠標(biāo)中鍵拖動、框選放大,進(jìn)行快捷導(dǎo)航
如框選放大:在低倍導(dǎo)航下,獲得樣品的大視野情況,可快速框選您感興趣的樣品區(qū)域,提高工作效率。

防碰撞技術(shù)

采取多維度的防碰撞方案:
1. 手動輸入樣品高度,精準(zhǔn)控制樣品與物鏡下端距離,防止發(fā)生碰撞;
2. 基于圖像識別和動態(tài)捕捉技術(shù),運(yùn)動過程中對倉內(nèi)的畫面進(jìn)行實(shí)時監(jiān)測;
3. 硬件防碰撞,可在碰撞一瞬間停止電機(jī),減少碰撞損傷。(*SEM3200A需選配此功能)

特色功能

智能輔助消像散

直觀反映整個視野的像散程度,通過鼠標(biāo)點(diǎn)擊清晰處,可快速調(diào)節(jié)像散至最佳。

自動聚焦

一鍵聚焦,快速成像。

自動消像散

一鍵消像散,提高工作效率。

自動亮度對比度

一鍵自動亮度對比度,調(diào)出灰度合適圖像。

多種信息同時成像

SEM3200軟件支持一鍵切換SE和BSE的混合成像??赏瑫r觀察到樣品的形貌信息和
成分信息。

快速圖像旋轉(zhuǎn)

拖動一條線,圖像立刻“擺正角度"。

豐富拓展性

掃描電子顯微鏡不僅局限于表面形貌的觀察,更可以進(jìn)行樣品表面的微區(qū)成分分析。
SEM3200接口豐富,除支持常規(guī)的二次電子探測器(ETD)、背散射電子探測器(BSED)、X射線能譜儀(EDS)外,也預(yù)留了諸多接口,如電子背散射衍射(EBSD)、陰極射線(CL)等探測器都可以在SEM3200上進(jìn)行集成。

背散射電子探測器
二次電子成像和背散射電子成像對比

背散射電子成像模式下,荷電效應(yīng)明顯減弱,并且可以獲得樣品表面更多的成分信息。

鍍層樣品:

鎢鋼合金樣品:

四分割背散射電子探測器——多通道成像

探測器設(shè)計精巧,靈敏度高,采用4分割設(shè)計,無需傾斜樣品,可獲得不同方向的陰影像以及成分分布圖像。

四個單通道的陰影像

成分像

能譜

LED小燈珠能譜面分析結(jié)果。

電子背散射衍射

鎢燈絲電鏡束流大,滿足高分辨EBSD的測試需求,能夠?qū)饘?、陶瓷、礦物等多晶材料進(jìn)行晶體取向標(biāo)定以及晶粒度大小等分析。
該圖為Ni金屬標(biāo)樣的EBSD反極圖,能夠識別晶粒大小和取向,判斷晶界和孿晶,對材料組織結(jié)構(gòu)進(jìn)行精確判斷。

產(chǎn)品參數(shù)

參數(shù)SEM3200
關(guān)鍵參數(shù)分辨率3 nm @ 30 kV, SE
7 nm @ 3 kV, SE
4 nm @ 30 kV, BSE
3 nm @ 30 kV, SE, 30 Pa
加速電壓0.2 kV ~ 30 kV
放大倍率1 x ~ 300,000 x
樣品室低真空模式5~1000 Pa(選配) 
攝像頭光學(xué)導(dǎo)航 + 樣品倉內(nèi)監(jiān)控
樣品臺類型五軸真空電機(jī)驅(qū)動
XY 行程 125 mm
Z 行程50 mm
T 行程-10° ~+90°
R 行程360°
探測器倉室內(nèi)二次電子探測器(ETD) ● 
背散射電子探測器 (BSED)(五分割,可選配)
能譜儀(EDS) ○ 
背散射衍射(EBSD)○ 
擴(kuò)展樣品交換倉○ 
旋鈕板 & 軌跡球○ 
軟件操作軟件Windows 操作系統(tǒng),中文 SEM 軟件
導(dǎo)航光學(xué)導(dǎo)航、手勢快捷導(dǎo)航、軌跡球(選配)
自動功能自動亮度對比度、自動聚焦、自動像散

●標(biāo)配 ○選配 / 無

應(yīng)用案例

國儀量子SEM3200鎢燈絲掃描電子顯微鏡


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